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HIOKI 3541 電阻測(cè)試儀
名稱：LCR測(cè)試儀
品牌：
型號(hào)：
簡(jiǎn)介：HIOKI 3541是寬量程、高分辨率、適用于系統(tǒng)測(cè)試的電阻測(cè)試儀。 HIOKI 3541電阻測(cè)試儀廣范圍測(cè)量,最低0.1（20.00m），最高110M。 快速采樣,最快可達(dá)0.6ms (*根據(jù)設(shè)定條件的不同,會(huì)有差異)。 HIOKI 35...
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- 產(chǎn)品介紹
HIOKI 3541是寬量程、高分辨率、適用于系統(tǒng)測(cè)試的電阻測(cè)試儀。
HIOKI 3541電阻測(cè)試儀廣范圍測(cè)量,最低0.1μΩ（20.00mΩ），最高110MΩ。
快速采樣,最快可達(dá)0.6ms (*根據(jù)設(shè)定條件的不同,會(huì)有差異)。
HIOKI 3541電阻測(cè)試儀補(bǔ)正偏置電壓,用9451(Pt)/溫度探頭進(jìn)行溫度補(bǔ)正功能。
運(yùn)用4端子測(cè)量技術(shù),測(cè)試線接觸電阻可忽略不計(jì)。
HIOKI 3541電阻測(cè)試儀具備統(tǒng)計(jì)、演算功能。若再另配選件的9670,可實(shí)現(xiàn)打印。
| 測(cè)量電流 | 20mΩ（最大顯示20.0000mΩ, 分辨率0.1μΩ）~100MΩ量程（最大顯示110.000MΩ，分辨率1kΩ），11檔切換 | ||||
| [Low Power ON時(shí)] 2Ω（最大顯示2.00000Ω，分辨率10μΩ）~2kΩ量程（最大顯示2.00000kΩ，分辨率10mΩ），4檔切換 | |||||
| 測(cè)量精度 | (SLOW2） ± 0.007% rdg. ±0.0015%dgt.（2k/20kΩ） | ||||
| [Low Power ON時(shí)]: ± 0.011% rdg. ±0.01%dgt.（2～2kΩ） | |||||
| 測(cè)量電流 | DC 1A～100nA, [Low Power ON時(shí)]: DC 10m～10μA | ||||
| 開路端子電壓 | DC 5V（20/200m）, 2.6V（2～20k）, 13V（1M～100M）,[Low Power ON時(shí)]: 60mV | ||||
| 采樣速度 | 快速 | 中速 | 低速 1 | 低速 2 | |
| 50Hz | 0.6ms ± 0.3ms | 21ms ± 1ms | 155ms ± 5ms | 455ms ± 10ms | |
| 60Hz | 0.6ms ± 0.3ms | 17ms ± 1ms | 149ms ± 5ms | 449ms ± 10ms | |
| 響應(yīng)時(shí)間（純電阻時(shí)）：上記采樣時(shí)間+約1ms（根據(jù)設(shè)定內(nèi)容、試料的不同,會(huì)有差異） | |||||
| 其它功能 | 溫度測(cè)量（-10.0~99.9 °C ），溫度補(bǔ)償電阻值換算，卷線溫度上升值換算，比較功能，最多可儲(chǔ)存裝填30種設(shè)定條件,分類（BIN）測(cè)量（10分類）, 統(tǒng)計(jì)運(yùn)算, 補(bǔ)償偏置電壓，遲延 , 平均 | ||||
| 外部輸入/輸出 | 輸出: BCD, 測(cè)量結(jié)束,比測(cè)儀結(jié)果, BIN結(jié)果, NG/開放連接器輸入: 設(shè)定條件選擇, 觸發(fā), 校準(zhǔn), 0ADJ,印刷 /C-MOS | ||||
| 供應(yīng)電源 | AC 100～240V, 50/60Hz, 30VA max. | ||||
| 體積及重量 | 215寬 × 80高 × 295厚mm, 2.6kg | ||||
| 附件 | 夾型測(cè)試線 9287× 1, 溫度探頭 9451× 1, 電源線× 1,保險(xiǎn)絲× 1, EXT I/O用插入式連接器× 1 | ||||
