布魯克Bruker JVX7300F-W 半導體計量儀
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簡介：布魯克Bruker JVX7300F-W 半導體計量儀擁有最新的系統(tǒng)控制。布魯克Bruker JVX7300F-W 半導體計量儀是完全自動化的，是由300毫米XRF技術(shù)系統(tǒng)和其Ag模塊特性組成,分析組成下撞擊金屬。由于極其微小的x光光斑大小...
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布魯克Bruker JVX7300F-W 半導體計量儀擁有最新的系統(tǒng)控制。布魯克Bruker JVX7300F-W 半導體計量儀是完全自動化的，是由300毫米µXRF技術(shù)系統(tǒng)和其Ag模塊特性組成,分析組成下撞擊金屬。由于極其微小的x光光斑大小,與競爭對手系統(tǒng)不同,個別測量是可行的,甚至10µm直徑,在這個例子中,使用小束剖面在單個模塊Ag組成。構(gòu)成可以快速、可靠地獲得,滿300mm晶圓與快速映射。非盟組成的地圖,Pd可以自動生成。
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