捷歐路JEOL DART 實時直接分析離子源
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簡介：捷歐路JEOL DART 實時直接分析離子源(Direct Analysis in Real Time即時直接分析)是無需樣品制備的、能進行快速分析的新型離子源。 DART于2003年誕生于日本電子美國公司（JEOL USA, Inc. )...
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- 產品介紹
捷歐路JEOL DART 實時直接分析離子源(Direct Analysis in Real Time即時直接分析)是無需樣品制備的、能進行快速分析的新型離子源。 DART于2003年誕生于日本電子美國公司（JEOL USA, Inc. )的質譜應用實驗室，是敞開式離子化技術中最早被發(fā)明和商品化的電離方法，2005年2月獲得匹茨堡金獎 pittcon Editors Gold Award, 同年9月獲得R&D100大獎。無論何種形態(tài)、狀態(tài)的樣品，只需放在DART離子源出口處，不需要任何的前處理就能實時獲取高分辨率的質譜圖。通常的分析設備不能處理的樣品如形狀不規(guī)則或臟的，都可以直接進行分析。
捷歐路JEOL DART 實時直接分析離子源是為日本電子AccuTOF系列質譜儀研制的離子源，安裝在AccuTOF LC-plus4G上能發(fā)揮最佳性能。真空排氣系統(tǒng)耐用，容量大。安裝DART不需要額外的接口，因此，AccuTOF LC-plus4G和DART離子源組合能夠檢測更寬范圍的極性和非極性化合物樣品，并將交叉污染降低到了最小限度。
捷歐路JEOL DART 實時直接分析離子源的電離基于激發(fā)態(tài)的原子，分子與大氣中的氣體和樣品的相互作用，氦氣被導入DART，在針狀電極放電后會產生等離子體，等離子體包括離子，電子和處于激發(fā)態(tài)（亞穩(wěn)定）的原子及分子；等離子體中的大部分帶電粒子被接地電極去除，只有處于激發(fā)態(tài)的中性氣體分子才會被釋放到大氣中。根據(jù)需要可用加熱器加熱，以促進樣品的汽化以及材料表面的熱解吸。
正離子
激發(fā)態(tài)的氦原子與大氣中的水反應，生成質子化水團簇，這些質子化水團簇與分析物（M）發(fā)生反應，生成了質子化陽離子。
He(23S) + H2O → H2O+. + He(11S) + e-
H2O+. + H2O → H3O+ + OH.
H3O+ + nH2O → [(H2O)n+1 + H]+
[(H2O)n+1 + H]+ + M → [M + H]+ + (n+1)H2O
負離子
激發(fā)態(tài)的氦原子與出口柵極、大氣中的中性粒子（N）相互作用，發(fā)生潘寧電離產生電子，這些電子與大氣中（G）的氣體碰撞并迅速減速，又與空氣中的氧氣發(fā)生反應產生氧負離子。
He(23S) + N → N+. + He(11S) + e-*
e-* + G → G* + e-
e- + O2 → O2-
O2-. + M → [M - H]- + OOH.
O2-. + M → M-. + O2
O2-. + M → [M + O2]-.
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