秦思肯Tescan FERA3 XM 掃描電子顯微鏡
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簡介：秦思肯Tescan FERA3 XM 掃描電子顯微鏡是一款由計算機全控制的Xe等離子聚焦離子束（i-FIB）場發(fā)射掃描電子顯微鏡，秦思肯Tescan FERA3 XM 掃描電子顯微鏡可選配氣體注入系統(tǒng) (GIS)，可在高真空和低真空模式下工...
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- 產(chǎn)品介紹
秦思肯Tescan FERA3 XM 掃描電子顯微鏡是一款由計算機全控制的Xe等離子聚焦離子束（i-FIB）場發(fā)射掃描電子顯微鏡，秦思肯Tescan FERA3 XM 掃描電子顯微鏡可選配氣體注入系統(tǒng) (GIS)，可在高真空和低真空模式下工作，其具有突出的光學性能、清晰的數(shù)字化圖像、成熟和用戶界面友好的SEM/FIB/GIS操作軟件等特點。基于Windows™平臺的操作軟件提供了簡易的電鏡操作和圖像采集，秦思肯Tescan FERA3 XM 掃描電子顯微鏡可以保存標準文件格式的圖片，可以對圖像進行管理、處理和測量，實現(xiàn)了電鏡的自動設置和許多其它自動操作。
秦思肯Tescan FERA3 XM 掃描電子顯微鏡分析潛力：高亮度肖特基發(fā)射可獲得高分辨率，高電流和低噪聲的圖像；選配的In-Beam二次電子探頭可獲取超高分辨率圖像；三透鏡大視野觀察（Wide Field Optics™）設計提供了多種工作模式和顯示模式，體現(xiàn)了TESCAN特有可優(yōu)化電子束光闌的中間鏡設計；結合了完善的電子光學設計軟件的實時電子束追蹤（In-Flight Beam Tracing™）可模擬和進行束斑優(yōu)化；成像速度快；低電壓下的電子束減速模式（Beam Deceleration Technology – BDT）可獲取高分辨率圖像（選配）；In-Beam背散射電子探頭，用于在小工作距離下得BSE圖像（選配），甚至適合鐵磁性樣品；全計算機化優(yōu)中心電動載臺設計優(yōu)化了樣品操控；完美的幾何設計更適合安裝能譜儀（EDX）、波譜儀（WDX）、背散射電子衍射儀（EBSD）；由于使用了強力的渦淪分子泵和干式前置真空泵，因而可以很快達到電鏡的工作真空。電子槍的真空由離子泵維持。自動的電子光路設置和合軸；網(wǎng)絡操作和內置的遠程控制/診斷軟件；3維電子束技術提供實時立體圖像；低真空模式下樣品室真空可達到500Pa用于觀測不導電樣品；獨特的離子差異泵（2個離子泵）使得離子散射效應超低；聚焦離子束鏡筒內有馬達驅動高重復性光闌轉換器；聚焦離子束的標配包括了電子束遮沒裝置和法拉第筒；高束流下超高的銑削速度和卓越的性能；FIB切割、信號采集、3維重構（斷層攝影術），3D EBSD、3D EBIC與集成3維可視化。成熟的SEM/FIB/GIS操作軟件，圖像采集、存檔、處理和分析功能。
FERA3配置：FERA3 XMH，是一款完全由計算機控制的Xe等離子聚焦離子束（i-FIB）場發(fā)射掃描電子顯微鏡，可選配氣體注入系統(tǒng)(GIS)，在真空模式下工作。FERA3 XMU，是一款完全由計算機控制的Xe等離子聚焦離子束（i-FIB）場發(fā)射掃描電子顯微鏡，可選配氣體注入系統(tǒng)(GIS)，可在高真空和低真空模式下工作。
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