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日置HIOKI ST5680EOL 直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀
名稱：絕緣電阻測(cè)試儀
品牌：日置HIOKI
型號(hào)：ST5680EOL
簡(jiǎn)介：日置HIOKI ST5680EOL 直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀為電池的安全測(cè)試提供更優(yōu)化的檢測(cè)方案，通過波形分析提升電池的檢測(cè)品質(zhì)● 準(zhǔn)確檢查絕緣性能，驗(yàn)證電池和電機(jī)質(zhì)量● 通過波形和數(shù)值顯示有助于優(yōu)化生產(chǎn)工序、對(duì)收回的不合格產(chǎn)品進(jìn)行分析、宣...
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日置HIOKI ST5680EOL 直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀
為電池的安全測(cè)試提供更優(yōu)化的檢測(cè)方案，通過波形分析提升電池的檢測(cè)品質(zhì)
● 準(zhǔn)確檢查絕緣性能，驗(yàn)證電池和電機(jī)質(zhì)量
● 通過波形和數(shù)值顯示有助于優(yōu)化生產(chǎn)工序、對(duì)收回的不合格產(chǎn)品進(jìn)行分析、宣傳檢查的可靠性
● 防止因電弧放電導(dǎo)致微小故障品流出
● 防止誤判導(dǎo)致的復(fù)測(cè)
● 支持廣泛的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。搭載BDV（絕緣擊穿電壓）測(cè)量功能。
專用于直流耐壓測(cè)試的高配置機(jī)型
這是提供更優(yōu)化的檢測(cè)品質(zhì)的直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀ST5680EOL的介紹。其性能可以支持各個(gè)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試條件，應(yīng)對(duì)所有的直流耐壓測(cè)試。
使用波形和數(shù)值驗(yàn)證絕緣性能【波形顯示功能】
ST5680EOL是能夠基于各種安全標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行直流耐壓測(cè)試和絕緣電阻測(cè)試的測(cè)試儀。
不僅可以進(jìn)行PASS/FAIL的合格與否判定，也可以顯示、記錄測(cè)試時(shí)的輸出電壓波形和泄漏電流波形。
將測(cè)試可視化分析，有助于檢查的溯源。
波形顯示的優(yōu)點(diǎn)
有助于優(yōu)化生產(chǎn)工序
通過分析檢查時(shí)的波形，可以推斷出生產(chǎn)工序中的不良因素。通過查明不良因素，優(yōu)化生產(chǎn)工序，從而能夠提高生產(chǎn)效率。
有助于對(duì)收回的不合格產(chǎn)品進(jìn)行分析
可以把收回的不合格品與當(dāng)初出廠檢測(cè)時(shí)的波形做比對(duì)。通過優(yōu)化合格品的判定標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)一步提高生產(chǎn)質(zhì)量。
有助于宣傳檢查的可靠性
波形的記錄管理有利于檢查的可溯源性，構(gòu)筑更高品質(zhì)的檢查體系，可以提升客戶的信任。
防止因電弧放電導(dǎo)致微小故障品流出[【電弧放電檢測(cè)功能】
可以檢測(cè)因?yàn)楹附用袒蚍蹓m異物等原因發(fā)生的電弧放電。
將引起輕微絕緣不良的產(chǎn)品判斷為微小故障品，可以防止出廠后因發(fā)熱原因引起的火災(zāi)事故或故障等風(fēng)險(xiǎn)。
防止誤判導(dǎo)致的復(fù)測(cè)【接觸檢查功能】
通過測(cè)量端子間的電容（雜散電容、被測(cè)物的電容），能判斷是否正確連接檢測(cè)對(duì)象。
防止將不合格品誤判為合格品
?測(cè)試中測(cè)試線脫落的情況
?測(cè)試部位間電阻增加的情況
例：測(cè)試線的老化、治具或高壓繼電器的老化等
可以輕松使用
?利用兩端子可以實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單的接線
適用于電池、電機(jī)、電子零件等的耐壓測(cè)試
ST5680EOL是向測(cè)試對(duì)象輸出高電壓，測(cè)試絕緣性能的測(cè)試儀。可以對(duì)從電子設(shè)備、電子零件、材料等的研究開發(fā)到生產(chǎn)線的廣泛對(duì)象進(jìn)行安全測(cè)試。在電池中，用于電池模組、電池包、電芯的電極和外殼間的耐壓測(cè)試。
可以在不考慮電容成分的情況下進(jìn)行測(cè)試
就算是測(cè)試對(duì)象含有電容成分的情況下，因?yàn)橛胁灰装l(fā)生過沖的設(shè)計(jì)，不會(huì)對(duì)測(cè)試對(duì)象輸出超過設(shè)置電壓的電壓，所以可以放心進(jìn)行測(cè)試。
另外，通過配合延遲時(shí)間的設(shè)置，也可以不對(duì)充電電流流動(dòng)的時(shí)間進(jìn)行判斷，從而防止誤判。
※可測(cè)量的最大靜電電容量值200 nF (測(cè)量更大的電容值可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)量時(shí)間變長(zhǎng)，或者測(cè)量值的偏差變大。 ）
最小分辨率0.001 μA的高精度判定
隨著電池和電機(jī)等絕緣性能的提高，對(duì)判斷耐壓測(cè)試合格與否的電流值設(shè)置要求也越來越高，要求設(shè)置為更小的電流。如果使用分辨率低的耐壓測(cè)試儀，則無法準(zhǔn)確測(cè)量泄漏電流的測(cè)量值。ST5680EOL實(shí)現(xiàn)了最小分辨率0.001uA的高精度規(guī)格，因此可以正確測(cè)量微小的泄漏電流，判斷合格與否。
搭載BDV（絕緣擊穿電壓）測(cè)量功能
搭載了確認(rèn)測(cè)試對(duì)象絕緣擊穿電壓的BDV（Break Down Voltage）功能 。
以一定速度提高輸出電壓，確認(rèn)達(dá)到絕緣擊穿時(shí)的電壓。
測(cè)試方法按標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，有連續(xù)升壓測(cè)試和逐級(jí)升壓測(cè)試。
ST5680EOL兩種測(cè)試都可以實(shí)施。可用于電池開發(fā)時(shí)的性能評(píng)價(jià)(絕緣耐力評(píng)估)。
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