同惠 TH512 半導體C-V特性分析儀
名稱：物性分析測試儀器
品牌：同惠
型號：TH512
簡介：一體化設計：LCR + 柵極電壓 VGS + 漏極電壓 VDS + 通道切換 + 上位機軟件柵極電壓 VGS：0 - ±40V漏極電壓 VDS：0 - ±200V/±1500V/±3000V單管器件 (點測)、模組器件 (列表掃描)、曲線掃...
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- 產品介紹
一體化設計：LCR + 柵極電壓 VGS + 漏極電壓 VDS + 通道切換 + 上位機軟件
柵極電壓 VGS：0 - ±40V
漏極電壓 VDS：0 - ±200V/±1500V/±3000V
單管器件 (點測)、模組器件 (列表掃描)、曲線掃描 (選件) 三種測試方式
四寄生參數(shù) (Ciss、Coss、Crss、Rg 或 Cies、Coes、Cres、Rg) 同屏一鍵測量及顯示
標配 2 通道，可擴展至 6 通道，可測單管、多芯或模組器件 (TH513 僅 1 通道)
CV 曲線掃描、Ciss-Rg 曲線掃描
電容快速充電技術，實現(xiàn)快速測試
接觸檢查 Cont
通斷測試 OP_SH
自動延時設置
Crss Plus 功能：解決高頻下 Crss 負值問題
高壓擊穿保護：DS 瞬間短路，保護儀器
Interlock 安全鎖功能：增加高壓防護墻 (僅 TH513)
Cs-V 功能：二極管結電容 CV 特性測試分析
等效模式轉換功能，可選 Cs 或 Cp 模式
10 檔分選
標配接口
RS232、USB HOST、USB DEVICE、LAN、HANDLER
物理參數(shù)
體積 (mm)：430 (W)×177 (H)×405 (D)
凈重：約 16 kg
應用
半導體元件 / 功率元件：二極管、三極管、MOSFET、IGBT、晶閘管、集成電路、光電子芯片等寄生電容測試、C-V 特性分析
半導體材料：晶圓、C-V 特性分析
液晶材料：彈性常數(shù)分析
| 產品型號 | TH512 |
|---|---|
| 通道數(shù) | 2 (可選配 4/6 通道) |
| 顯示 | 10.1 英寸電容觸摸屏，16:9，1280×RGB×800 |
| 測量參數(shù) | Ciss、Coss、Crss、Rg，四參數(shù)任意選擇 |
| 測試頻率范圍 | 1kHz-2MHz |
| 測試頻率精度 | 0.01% |
| 測試頻率分辨率 | 10mHz/100mHz/1Hz/10Hz 分段 |
| 測試電平電壓范圍 | 5mVrms-1Vrms |
| 測試電平準確度 | ±(10%× 設定值 + 2mV) |
| 測試電平分辨率 | 1mVrms |
| VGS 電壓范圍 | 0 - ±40V |
| VGS 電壓準確度 | 1%× 設定電壓 + 8mV |
| VGS 電壓分辨率 | 1mV/10mV 分段 |
| VDS 電壓范圍 | 0 - ±1500V |
| VDS 電壓準確度 | 1%× 設定電壓 + 100mV |
| 輸出阻抗 | 100Ω，±2%@1kHz |
| 數(shù)學運算 | Δ、Δ% |
| 校準功能 | 開路、短路、負載、夾具校準，1-32 次測量平均 |
| AD 轉換時間 | 快速 +/ 快速 / 中速 / 慢速可選 |
| 最高準確度 | 0.5% |
| Ciss/Coss/Crss 量程 | 0.00001pF - 9.99999F |
| Rg 量程 | 0.001mΩ - 99.9999MΩ |
| 列表掃描 | 50 點，參數(shù)自由設置 |
| 圖形掃描 | 最多 1001 點，多曲線同屏 |
| 比較器 | 10Bin，PASS/FAIL |
| 存儲 | 內部 100M，外置 USB |
| 接口 | USB HOST/DEVICE、LAN、HANDLER、RS232C、RS485、GPIB |
| 開機預熱時間 | 60 分鐘 |
| 輸入電壓 | 100-120VAC/198-242VAC，47-63Hz |
| 供電功率 | ≥130VA |
| 尺寸 (mm) | 430×177×405 |
| 重量 | 16kg |
標配附件
電源線一根
TH26063B 測試夾具（僅 TH511、TH512）
TH26063C 測試夾具（僅 TH511、TH512）
TH26063D 連接電纜（僅 TH511、TH512）
TH26063G 測試延長線（僅 TH511、TH512）
TH26071C USB 轉 RS232 通訊線纜
TH513-1 測試夾具（僅 TH513）
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